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          OLYMPUSX射線衍射儀BTX Profiler

          • 品牌:OLYMPUS
          • 型號:BTX Profiler
          • 閱讀次數(shù):9601

          產(chǎn)品介紹

          用XRD和XRF組合技術(shù)對材料進行全面分析

          • 利用2維傳輸XRD技術(shù)進行礦物學-結(jié)晶相分析
          • 使用能量色散XRF技術(shù)進行元素分析
          • 數(shù)據(jù)與結(jié)果的整合天衣無縫
          • 節(jié)省了操作成本、空間和時間

          BTX Profiler所使用的創(chuàng)新型XRD技術(shù)是美國國家航空航天局成功的火星科學實驗室項目中的“好奇”號漫游者曾經(jīng)使用過的技術(shù)。它所采用的另一種技術(shù)是Olympus的X射線分析儀所使用的廣受贊譽、優(yōu)質(zhì)實用的XRF技術(shù)。

          規(guī)格參數(shù)

          BTX Profiler的技術(shù)規(guī)格

            用于單個樣品分析的BTX Profiler 用于多個樣品分析的BTX Profiler
          XRD的技術(shù)規(guī)格    
          XRD范圍 5-55度 2θ 5-55度 2θ
          XRD分辨率 0.25度 2θ 0.25度 2θ
          XRD探測器類型 1024 × 256像素2維Peltier致冷CCD 1024 × 256像素2維Peltier致冷CCD
          樣件顆粒大小 <150 μm碾壓粉末(100目篩) <150 μm碾壓粉末(100目篩)
          其它樣品類型 凝膠、潤滑脂 凝膠、潤滑脂
          樣品量 ~ 0.5 g ~ 0.5 g
          X射線目標材料 銅(鈷為可選項) 銅(鈷為可選項)
          X射線管電壓 30 kV 30 kV
          X射線管最大電流 330 μA 330 μA
          XRF的技術(shù)規(guī)格    
          XRF探測器 大區(qū)域硅漂移探測器 大區(qū)域硅漂移探測器
          X射線目標材料
          X射線管幾何形狀 發(fā)射目標端窗口 發(fā)射目標端窗口
          X射線管電壓 40 kV 40 kV
          X射線管最大電流 200 μA 200 μA
          輕元素分析 氦沖,大約0.25 l/min 氦沖,大約0.25 l/min
          主要過濾器 可配置7個位置 可配置7個位置
          樣品量 ~2 g ~2 g
               
          工作溫度 -10 °C~35°C -10 °C~35°C
          重量 23.13 kg / 單樣品儀器 32.66 kg / 帶20個位置自動進樣機的儀器
          外型尺寸 49.3 cm × 39.7 cm × 34.4 cm / 單樣品儀器 67.4 cm × 39.7 cm × 34.4 cm / 帶20個位置自動進樣機的儀器

          BTX Profiler的技術(shù)規(guī)格

          XRD分辨率 0.25o 2? FWHM
          XRD范圍 5 - 55o 2?
          探測器類型 1024 x 256像素;2維Peltier致冷CCD
          XRF能量分辨率 200eV,5.9 keV
          XRF能量范圍 3到25 keV
          樣件顆粒大小 <150 μm 碾壓礦物質(zhì)(100目篩,150 μm)
          樣品量 ~ 15 mg
          X射線目標材料 鈷或銅(鈷為可選項)
          X射線管電壓 30 kV
          X射線管功率 10 W
          數(shù)據(jù)存儲 40 Gb - 堅固耐用的內(nèi)部硬盤驅(qū)動器
          無線連接 802.11 b/g,從網(wǎng)絡(luò)瀏覽器進行遙控
          工作溫度 -10oC到35oC
          重量 12.5 kg

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