RAYONIC涂層重量計RS40i-GA/RS40i-XT

新的RS40i-GA測量頭及其優(yōu)化的測量算法，在鐵含量測量的準確性和可靠性方面取得了另一項突破。新型測量頭的中心部分是能量分散電離室，可同時測量鐵和鋅的熒光輻射。確定輻射分量的信號以準確測量測量區(qū)域。創(chuàng)新的電離室和增加的測量通道數(shù)量使得探測器布置具有嚴格的對稱性和冗余性。這使得對表面紋理和拓撲的敏感性降低。模塊化，易于維護的設計簡化了儀表頭的維護，減少了停機時間和成本。

使用XRF方法測量鋅涂層將有用的測量范圍限制在350g/m²。RS40i-XT將鋅涂層的有用測量范圍提高到500g/m²甚至更高。這通過將涂層中的彈性和非彈性散射包括在測量效果中而成為可能。彈性和非彈性散射X射線的能量由初級X射線束和測量幾何形狀確定。RS40i-XT，測量范圍為10至500g/m²。